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XRF2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

可测单层,双层,多层,合金镀层,

测量范围:0.04-35um

测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度

全自动台面,操作非常方便简单

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值

同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,

可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92

准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能